該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

主要性能指標(biāo)

波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：UV－340探頭：λ：(315～370)nm；λ_P＝340nm

輻照度測(cè)量范圍：(0.1～199.9×10³)μW/cm²

紫外帶外區(qū)雜光：UV340：小于0.05％

余弦特性：符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)

示值相對(duì)誤差：±10％

響應(yīng)時(shí)間：1秒

使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg

電源：9V積層電池（6F22型）一只