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Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀信息二維碼

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7900

詳細(xì)介紹

提升您的期望 新型 Agilent 7900 ICP-MS 開啟了 ICP-MS 的新紀(jì)元。新型 Agilent 7900 ICP-MS 將再次重新定義 ICP-MS:與世界上最暢銷的 7700 ICP-MS 系列相比,其高鹽基質(zhì)耐受能力增強(qiáng)了 10 倍,動態(tài)范圍擴(kuò)展了 10 倍,信噪比提高了 10 倍 ,而且功能強(qiáng)大的軟件還可幫您編寫方法。全球大的全自動 ICP-MS 具備業(yè)內(nèi)最高效的氦氣碰撞模式,具有無與倫比的干擾消除能力,無論什么樣的應(yīng)用,都能為您提供zuiyou異的數(shù)據(jù)質(zhì)量。Agilent 7900 ICP-MS 的每個組件都經(jīng)過精心設(shè)計,造就了卓越的性能和可靠性,為您開辟成功之路。


產(chǎn)品特性:


● 的高鹽基質(zhì)耐受能力 Agilent 7900 ICP-MS 的穩(wěn)定等離子體和可選的超耐高鹽進(jìn)樣系統(tǒng) (UHMI) 可幫助您對高達(dá) 25% 總?cè)芙夤腆w (TDS) 含量的樣品進(jìn)行常規(guī)測量,其高鹽基質(zhì)耐受能力比傳統(tǒng) ICP-MS 限量高 100 倍,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了其他任何 ICP-MS。


● 最寬的動態(tài)范圍 新型正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可提供高達(dá) 11 個數(shù)量級的動態(tài)范圍,從亞 ppt 級到百分級濃度,用戶可在同一次運(yùn)行中同時測量痕量與常量元素。


● 痕量物質(zhì)檢測更勝一籌 新型的接口設(shè)計和優(yōu)化的擴(kuò)展級真空系統(tǒng)提高了離子傳輸效率,在 < 2% CeO 的條件下可提供 >109 cps/ppm 的靈敏度,ODS 則可提高增益并降低背景,進(jìn)而提高信噪比。


● 更快的瞬時信號分析 7900 ICP-MS 每秒可完成 10000 次獨(dú)立測量,可為瞬時信號的準(zhǔn)確分析提供極短的積分時間


● 無可比擬的易用性 zuixin一代 ICP-MS MassHunter 軟件提供了直觀的控制面板設(shè)計,配備的小工具可指導(dǎo)您完成每一步分析。只需簡單回答幾個應(yīng)用問題,或者對一個典型的樣品進(jìn)行分析,創(chuàng)新的方法設(shè)置向?qū)Ъ纯勺詣訛槟鷦?chuàng)建方法。您還可以使用遠(yuǎn)程監(jiān)控應(yīng)用程序隨時隨地監(jiān)測與控制您的 ICP-MS 儀器,增強(qiáng)了靈活性。


● 更高的分析效率 超耐高鹽進(jìn)樣系統(tǒng) (UHMI) 技術(shù)結(jié)合可選的集成樣品引入系統(tǒng) (ISIS 3) 以及 ODS,可以在最寬的動態(tài)范圍內(nèi)分析并定量幾乎任何樣品,避免了因產(chǎn)生量程外結(jié)果而不得不重新分析所耗費(fèi)的額外時間及成本。


技術(shù)資料

  • Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀產(chǎn)品樣本
  • Maximizing productivity for high matrix sample analysis
  • 使用 Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀對納米材料進(jìn)行單顆粒分析
  • 使用配備單納米顆粒應(yīng)用模塊的Agilent 7900 ICP-MS 實(shí)現(xiàn)單個納米顆粒的自動化高靈敏度分析
  • Quantitative analysis of high purity metals using laser ablation coupled to an Agilent 7900 ICP-MS

解決方案

  • 利用ICP-MS 對太陽能(光伏)級硅塊進(jìn)行超痕量分析
  • 采用表面金屬提取電感耦合等離子體質(zhì)譜(SME-ICP-MS) 表征硅片表面的金屬污染物
  • 采用合成基質(zhì)校正方法以 ICP-MS 測定血液中的微量砷元素
  • 使用 Agilent 7700x ICP-MS 進(jìn)行單顆粒分析
  • 使用 Agilent 7900 ICP-MS 在 scICP-MS 模式下進(jìn)行單細(xì)胞分析
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