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ISPX射線熒光測(cè)厚iEDX-150WT可用于測(cè)定氮化鋁陶瓷覆銅基板，適用于氮化鋁陶瓷覆銅基板項(xiàng)目。并且參考多項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)http://www.sense.cc/newsinfo/461186.html?？蓱?yīng)用于多個(gè)行業(yè)領(lǐng)域。

    iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀在氮化鋁陶瓷基板鍍層領(lǐng)域的應(yīng)用案例。隨著國(guó)內(nèi)外LED行業(yè)向高效率、高密度、大功率等方向發(fā)展，開發(fā)性能優(yōu)越的散熱材料已成為解決LED散熱問(wèn)題的當(dāng)務(wù)之急。一般來(lái)說(shuō)，LED發(fā)光效率和使用壽命會(huì)隨結(jié)溫的增加而下降，當(dāng)結(jié)溫達(dá)到125℃以上時(shí)，LED甚至?xí)霈F(xiàn)失效。為使LED結(jié)溫保持在較低溫度下，必須采用高熱導(dǎo)率、低熱阻的散熱基板材料和合理的封裝工藝，以降低LED總體的封裝熱阻。

應(yīng)用領(lǐng)域:

iEDX-150WT鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于PCB鍍層厚度測(cè)量分析、金屬電鍍鍍層分析、電鍍膜厚分析等鍍層領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)：

多鍍層，1～5層

測(cè)試精度：0.001 μm

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

測(cè)量時(shí)間：10~30秒

SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV

探測(cè)器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射線管50KV/1mA，鉬、鎢、銠靶

6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換

XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)，zei大荷載為5公斤

高清CCD攝像頭，準(zhǔn)確監(jiān)控位置

多變量非線性去卷積曲線擬合

高性能FP/MLSQ分析

儀器尺寸 620×612×525 mm

平臺(tái)移動(dòng)范圍 110(X)x110(Y)x5mm

圖譜界面：

軟件支持無(wú)標(biāo)樣分析

超大分析平臺(tái)

可自動(dòng)連續(xù)多點(diǎn)分析

集成了鍍層分析界面和合金成分分析界面

采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)

分析報(bào)告結(jié)果

直接打印分析報(bào)告
報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF，EXCEL格式

樣品分析圖譜：

測(cè)試結(jié)果界面：

韓國(guó) 鍍層測(cè)厚儀iEDX-150WTISP 可檢測(cè)氮化鋁陶瓷覆銅基板,iEDX-150WT

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