|
>
/ /
ISPX射線熒光測厚iEDX-150WT用于測定印制板,符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)IPC4553浸銀鍍層測試標(biāo)準(zhǔn)。適用印制板的浸鎳/金厚度進行測量IPC4553標(biāo)準(zhǔn)項目。
鍍層平整且完全覆蓋被鍍覆表面
應(yīng)用領(lǐng)域:
iEDX-150WT鍍層測厚儀應(yīng)用于PCB鍍層厚度測量分析、金屬電鍍鍍層分析、電鍍膜厚分析等鍍層領(lǐng)域
技術(shù)指標(biāo):
多鍍層,1~5層
測試精度:0.001 μm
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)
測量時間:10~30秒
SDD探測器,能量分辨率為125±5eV
探測器Be窗0.5mil(12.7μm)
微焦X射線管50KV/1mA,鉬、鎢、銠靶
6個準(zhǔn)直器及多個濾光片自動切換
XYZ三維移動平臺,zei大荷載為5公斤
高清CCD攝像頭,準(zhǔn)確監(jiān)控位置
多變量非線性去卷積曲線擬合
高性能FP/MLSQ分析
儀器尺寸 620×612×525 mm
平臺移動范圍 110(X)x110(Y)x5mm
圖譜界面:
軟件支持無標(biāo)樣分析
超大分析平臺
可自動連續(xù)多點分析
集成了鍍層分析界面和合金成分分析界面
采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)
分析報告結(jié)果
直接打印分析報告
報告可轉(zhuǎn)換為PDF,EXCEL格式
樣品分析圖譜:
測試結(jié)果界面:
iEDX-150WT韓國 鍍層測厚儀X射線熒光測厚 使用iEDX150WT應(yīng)對IPC4553浸銀鍍層測試應(yīng)用,iEDX-150WT
/iEDX-150WT韓國 鍍層測厚儀X射線熒光測厚 使用iEDX150WT應(yīng)對IPC4553浸銀鍍層測試應(yīng)用信息由深圳市善時儀器有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于iEDX-150WT韓國 鍍層測厚儀X射線熒光測厚 使用iEDX150WT應(yīng)對IPC4553浸銀鍍層測試應(yīng)用報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
/