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切割機Leica EM TIC 3X 徠卡 應用于汽車/鐵路/船舶針對不同使用環(huán)境，有著不同的操作與維護流程，點擊查看操作維修手冊。

如今，離子束蝕刻技術是應用最廣泛的電子顯微鏡樣品制備方 法。在蝕刻過程中，高能氬離子束轟擊樣品，并根據(jù)其應用領域 調(diào)整 離子束能量和切割角度。 在制備掃描電子顯微鏡樣品時，離子束蝕刻可改善或修改樣品 表面質量。 首先，離子束刻蝕能夠清潔、拋光或增加表面的襯度。經(jīng)離子束 處理的樣品表面足以適用于各種靈敏的表面性能測試方法（如 EBSD）。 另外，離子束刻蝕也可以通過斜面切割制備樣品的橫截面。 徠卡EM TIC 3X是一款離子束研磨儀，用于制備掃描電子顯微鏡 樣品?？梢灾苽錁悠返臋M截面以及大面積表面。 樣品的橫截面還可以使用低能離子束再次處理。該處理過程既 可以清洗橫截面，也能增強其襯度。 另外，EM TIC 3X可以通過離子束拋光工藝改進樣品的機械拋光 表面。樣品表面的最大離子束制備直徑為25mm，最大樣品直徑 為38mm。 離子束拋光可以清洗、拋光樣品表面，并增強其襯度，可以在一 臺儀器中完成所有類型的掃描電子顯微鏡樣品制備流程。

• 標準載物臺

• 多樣品載物臺

• 旋轉載物臺

• 冷卻載物臺

• 真空冷傳輸對接臺

用于制備標準樣品、高產(chǎn)品處理，以及在低溫條件下制備對高溫異常敏感的樣品，例如聚合物、橡膠或生物材料。




環(huán)境控制型工作流程解決方案
憑借與 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 對接臺接口，可為易受環(huán)境影響的樣品和/或低溫樣品提供出色的刨平工作流程，此類樣品包括
?生物材料
?地質材料
?工業(yè)材料。
隨后，這些樣品會在惰性氣體/真空/冷凍條件下，被傳輸至我們的鍍膜系統(tǒng) EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系統(tǒng)。

產(chǎn)品簡介：
獨特寬場三離子束，以垂直于樣品側面縱向轟擊樣品，實現(xiàn)高質量無應力“切割”截面，幾乎適用于各種材料。還可對樣品進行離子束拋光處理。

產(chǎn)品介紹：
可復制的結果
Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可制備橫切面和拋光表面，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結構分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。使用 Leica EM TIX 3X，您幾乎可以在室溫或冷凍條件下，對任何材料實現(xiàn)高品質的表面處理，盡可能顯示樣品近自然狀態(tài)下的內(nèi)部結構。

帶來前所未有的便利！

對于離子研磨儀的效率來說，真正重要的是同時具備出色的品質結果和高產(chǎn)量。與前代版本相比，全新版本不僅切割速度提高了一倍，其獨特的三離子束系統(tǒng)還優(yōu)化了制備質量，并縮短了工作時間。一次可處理樣品多達 3 個， 并可在同一個載物臺上進行橫切和拋光。

工作流程解決方案可安全、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)。

靈活的系統(tǒng) — 隨時滿足您的需求
憑借可靈活選擇的載物臺，Leica EM TIC 3X 不僅是進行高產(chǎn)量處理的理想設備，還適用于委托檢測的實驗室。根據(jù)您的需求，可選擇以下可互換的載物臺對 Leica EM TIC 3X 進行個性化配置：

切割機Leica EM TIC 3X 徠卡 應用于汽車/鐵路/船舶,Leica EM TIC 3X

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