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牛津儀器原子層刻蝕PlasmaPro 100 ALE可以用在納米材料行業(yè)領(lǐng)域,用來檢測(cè)Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors項(xiàng)目。符合多項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Oxford Instruments。
半導(dǎo)體制造解決方案
我們的設(shè)備和工藝已通過充分驗(yàn)證,正常運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間可達(dá)90%以上,一旦設(shè)備安裝完畢,可立即投入使用。PlasmaPro 100系列市場(chǎng)應(yīng)用廣,包括但不限于: MEMS和傳感器、光電子、分立元器件和納米技術(shù)。它具有足夠的靈活性,可用于研究和開發(fā),通過打造質(zhì)量滿足生產(chǎn)需求。
PlasmaPro 100 ALE 的特點(diǎn):
準(zhǔn)確的刻蝕深度控制;
光滑的刻蝕表面
低損傷工藝
數(shù)字化/循環(huán)式刻蝕工藝——刻蝕相當(dāng)于ALD
高選擇比
能加工最大200mm的晶圓
高深寬比(HAR)刻蝕工藝
非常適于刻蝕納米級(jí)薄層
應(yīng)用
III-V族材料刻蝕工藝
固體激光器InP刻蝕
VCSEL GaAs/AlGaAs刻蝕
射頻器件低損傷GaN刻蝕
硅 Bosch和超低溫刻蝕工藝
類金剛石(DLC)沉積
二氧化硅和石英刻蝕
用特殊配置的PlasmaPro FA設(shè)備進(jìn)行失效分析的干法刻蝕解剖逆工藝,可處理封裝好的芯片, 裸晶片,以及200mm晶圓
高質(zhì)量PECVD沉積的氮化硅和二氧化硅,用于光子學(xué)、電介質(zhì)層、鈍化以及諸多其它用途
用于高亮度LED生產(chǎn)的硬掩模沉積和刻蝕
原子層刻蝕半導(dǎo)體檢測(cè)儀牛津儀器 應(yīng)用于高分子材料,PlasmaPro 100 ALE
/原子層刻蝕半導(dǎo)體檢測(cè)儀牛津儀器 應(yīng)用于高分子材料信息由牛津儀器科技(上海)有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于原子層刻蝕半導(dǎo)體檢測(cè)儀牛津儀器 應(yīng)用于高分子材料報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
/注:該產(chǎn)品未在中華人民共和國(guó)食品藥品監(jiān)督管理部門申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途