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牛津儀器能譜探測器Ultim Extreme可以用在高分子材料行業(yè)領域，用來檢測Polymers，可完成Characterisation項目。符合多項行業(yè)標準Oxford Instruments。

SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many materials and is being used increasingly to meet the characterisation challenges associated with some key areas of polymer research and manufacturing. 

Ultim Extreme 硅漂移探測器是高分辨率場發(fā)射掃描電鏡應用的一個突破，可提供遠遠超越傳統(tǒng)微米和納米分析的解決方案。

Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款無窗能譜，晶體面積100mm2，經(jīng)優(yōu)化設計來盡可能提高靈敏度和空間分辨率。它采用跑道型結構設計，優(yōu)化高分辨率場發(fā)射掃描電鏡在低加速電壓和短工作距離下工作時的成像和EDS性能，使用Ultim Extreme，EDS的空間分辨率接近掃描電鏡的分辨率。

• SEM-EDS聯(lián)用時的高空間分辨率
  

• 場發(fā)射SEM中￡10nm元素表征
  
  

• 表面科學
  

• SEM中表面表征
  
  

• 低加速電壓下的材料鑒別
  

• 低至1kV加速電壓下的材料表征
  
  

• 快速準確的納米表征
  

• 塊狀樣品快速采集、實時數(shù)據(jù)處理

• 超輕元素敏感性
  

• 元素探測能力的新高度，如Li、N、O

SEM中EDS分析高空間分辨率和低能端性能。將Extreme電子電路、無窗設計與幾何結構和傳感器的優(yōu)化設計相結合，靈敏度比傳統(tǒng)大面積SDD高15倍。

• 可對鋰元素進行檢測和成像

• 加速電壓小于2kV時塊狀樣品中的空間分辨率低于10nm

• 在低于1kV加速電壓下對材料進行表征

• 與浸沒式電鏡相配合，可在高達30kV的加速電壓下收集高質(zhì)量的元素信息

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  X射線能譜儀EDS能譜探測器牛津儀器 應用于高分子材料,Ultim Extreme

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注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途