美國(guó) Filmetrics     www.filmetrics.com 

美國(guó)Filmetrics公司出品的F20 膜厚測(cè)量?jī)x,可快速簡(jiǎn)便的測(cè)量透光薄膜的光學(xué)參數(shù)(n,k值),可在幾秒內(nèi)測(cè)量并分析薄膜的表層和底層的反射光譜得到膜厚,折射率參數(shù)。
軟件以及USB接口可輕易的將儀器與Window系統(tǒng)的電腦連接。軟件的數(shù)據(jù)庫(kù)預(yù)存100種以上材料的基本信息，利用這些已存信息可以測(cè)量多層結(jié)構(gòu)，用戶還可以通過(guò)擬合測(cè)量將新材料的光學(xué)系數(shù)存入系統(tǒng)以備今后應(yīng)用。

測(cè)量條件：
薄膜：  平整，半透明，吸光薄膜。例如：SiO2 SiNX DLC、光刻膠、多晶硅無(wú)定形硅，硅片；
基底層：平整，反射基底。如需測(cè)量光學(xué)系數(shù)，則需要平整鏡面反射基底，如果基片是透光的，基片背面需要做反光處理?？捎没桌纾汗杵?玻璃 鋁、GaAs 鋼 聚碳酸脂、聚合物薄膜

儀器技術(shù)參數(shù)：

膜厚測(cè)試儀,F20

膜厚測(cè)試儀信息由香港電子器材有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于膜厚測(cè)試儀報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來(lái)電或留言咨詢。

注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國(guó)食品藥品監(jiān)督管理部門(mén)申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途